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[00258219]基于量化核最小均方误差的Hammerstein系统辨识方法

交易价格: 面议

所属行业: 电子元器件

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201710313992.7

交易方式: 技术转让 技术转让 技术入股

联系人: 西安交通大学

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所在地:陕西西安市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

本发明公开一种基于量化核最小均方误差的Hammerstein系统辨识方法,使用量化核最小均方误差方法(QKLMS)拟合Hammerstein的非线性部分,该方法具有很强的拟合能力,能够拟合任何非线性映射。当调整量化参数,QKAHF算法可以获得不同的性能,量化参数变大时,均方误差的收敛稳态值变大,但网络结构变小;量化参数变小时,均方误差的收敛稳态值变小,但网络结构会变大,能够实现更好的拟合性能,且快速收敛,在实际应用中更加易于推广和使用。
本发明公开一种基于量化核最小均方误差的Hammerstein系统辨识方法,使用量化核最小均方误差方法(QKLMS)拟合Hammerstein的非线性部分,该方法具有很强的拟合能力,能够拟合任何非线性映射。当调整量化参数,QKAHF算法可以获得不同的性能,量化参数变大时,均方误差的收敛稳态值变大,但网络结构变小;量化参数变小时,均方误差的收敛稳态值变小,但网络结构会变大,能够实现更好的拟合性能,且快速收敛,在实际应用中更加易于推广和使用。

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