联系人:秦飞
所在地:上海上海市
技术紧迫性和必要性:
温差电材料是温差电器件的核心,为了提高器件的可靠性,首先要确保温差电材料高效、稳定、可靠,在器件集成前对温差电元件进行工况模拟测试,可以少走弯路,缩短器件研制周期。因此,对温差电元件的测试是非常必要的。然而,当前市场上商业化的器件测试设备主要来自日本真空理工的PEM该设备主要测试温差电器件发电性能且对样品规格有严格要求,而Mini-PEM产品主要测试单个温差电元件的发电性能,不适合同时对P型、N型两种不同类型的温差电元件进行测试,测试效率低。
技术价值:
补短板
技术水平:
目前主要为本课题组科研人员、学生新材料测试表征。
技术特点:
1.采用自主设计的样品测试台可评价单元件(P型或N型),P、N元件对称布置或单侧布置同步测试 2.采用自主开发的软件实现热源温度控制和I-V性能测试,能够评价温差电元件在恒温热持久和高低温热循环工况下的老化性能
性能指标:
1.元件尺寸:截面2x2~8x8mm,长度为2~20mm; 2.测试温度:室温~800℃ 3.真空或惰性气氛
技术状态:
目前国内尚无相关商品化设备,Mini-Pem最高测试温度低(低于550℃),本实验室搭建了两台测试设备,最高测试温度为800℃,样品老化测试时间超过5000小时,运行稳定可靠 。申请1项专利。
人才团队:
该技术现有在职科研人员3人,其中高级工程师2人,助理研究员1人。
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