[00876374]一种基于差示扫描量热法对LED元器件的稳定性和可靠性的检测方法

随着LED(light Emitting Diode，简称LED)技术的发展，LED照明在现代社会中的应用越来越广泛。不仅在基础设施建设方面变得不可或缺，在仪表制造、军事工业及航天工业中也占据了非常重要的地位。因此认识和了解LED技术，研究行之有效的LED可靠性检测方法，确保LED制品在工作时的稳定性和可靠性至关重要。近年来，LED产品以其安全可靠、使用寿命长，耗能低、响应快速及绿色便捷等多项优点风靡市场。但是由于制造方法及使用材料有所区别，使得LED的稳定性和可靠性检测变得繁琐复杂。这就导致了市场上的产品可能出现失效或者其它的故障，影响到人们的正常生活及生产。该发明的目的是针对现有技术的不足，而提供一种基于差示扫描量热法对LED元器件的稳定性和可靠性的检测方法。这种方法能够快速准确的对LED元器件各部分的稳定性作出判断并对LED元器件的可靠性进行评估，为LED元器件的构件选材及结构设计提供参考从而提高产品质量。 该发明公开了一种基于差示扫描量热法对LED元器件的稳定性和可靠性的检测方法，其特征在于包括如下步骤：1)取样；2)拆解分组；3)预处理；4)标准样品比热曲线测试；5)试样测试；6)DSC曲线参数计算；7)自由能计算；8)比较判定。这种方法能够快速准确的对LED元器件各部分的稳定性作出判断并对LED元器件的可靠性进行评估，为LED元器件的构件选材提供参考，从而提高产品质量。