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[00325464]基于数字全息术的高精度三维显微成像与测量技术

交易价格: 面议

所属行业: 其他电子信息

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:2013102853273

交易方式: 资料待完善

联系人:王华英

所在地:

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

  一、技术特点:相关专利技术名称为“一种光学显微成像系统及成像方法”和“一种准确获取三维显微图像的方法”,该专利技术是一种基于数字全息显微术的三维微结构定量成像与可视化测量技术,具有全场、非接触、高灵敏、高分辨、准实时成像等特点。

  二、显著创新点:利用基于横向剪切的最小二乘法进行位相解包裹及自动位相畸变补偿方法进行位相畸变补偿,提高位相测量精度及三维成像的实时性。

  三、主要技术指标:在可见光照明条件下,横向分辨率可达到0.5微米,轴向分辨率可达到纳米量级。

  四、应用范围:本技术可用于形貌及变形测量、振动分析、细胞检测及监测、粒度分析、折射率测量、厚度测量、缺陷表征、温度场表征、物质参数(泊松比、杨氏模量、热胀系数)测定、气体浓度测量、电化学反应速度表征、图像识别、信息加密等,应用领域包括:生命医学、材料科学、先进制造、微光学、环境监测、信息安全、现代农业等。

  五、市场前景和效益分析:本技术具有非常广阔的应用范围,市场前景非常好。本技术可产生的效益主要包括两个方面:1、基于本技术开发的相关产品销售所产生的直接经济效益,由于该技术的先进性和应用的广阔性,可预期巨大的经济效益;2、本技术的推广应用在多个领域所产生的相关经济效益和社会效益,与前者相比,该项效益更为可观。

  六、实施条件:本技术属于光学、光电技术与信息技术的高度融合,其系统组成主要包括:光源、光电传感器、计算机及相关光学元器件,因此,成果实施原材料、设备、厂房、动力、土地、环保、周边环境等方面的要求并不高,人力资源投入较少,但对相关人员技术要求较高。

  一、技术特点:相关专利技术名称为“一种光学显微成像系统及成像方法”和“一种准确获取三维显微图像的方法”,该专利技术是一种基于数字全息显微术的三维微结构定量成像与可视化测量技术,具有全场、非接触、高灵敏、高分辨、准实时成像等特点。

  二、显著创新点:利用基于横向剪切的最小二乘法进行位相解包裹及自动位相畸变补偿方法进行位相畸变补偿,提高位相测量精度及三维成像的实时性。

  三、主要技术指标:在可见光照明条件下,横向分辨率可达到0.5微米,轴向分辨率可达到纳米量级。

  四、应用范围:本技术可用于形貌及变形测量、振动分析、细胞检测及监测、粒度分析、折射率测量、厚度测量、缺陷表征、温度场表征、物质参数(泊松比、杨氏模量、热胀系数)测定、气体浓度测量、电化学反应速度表征、图像识别、信息加密等,应用领域包括:生命医学、材料科学、先进制造、微光学、环境监测、信息安全、现代农业等。

  五、市场前景和效益分析:本技术具有非常广阔的应用范围,市场前景非常好。本技术可产生的效益主要包括两个方面:1、基于本技术开发的相关产品销售所产生的直接经济效益,由于该技术的先进性和应用的广阔性,可预期巨大的经济效益;2、本技术的推广应用在多个领域所产生的相关经济效益和社会效益,与前者相比,该项效益更为可观。

  六、实施条件:本技术属于光学、光电技术与信息技术的高度融合,其系统组成主要包括:光源、光电传感器、计算机及相关光学元器件,因此,成果实施原材料、设备、厂房、动力、土地、环保、周边环境等方面的要求并不高,人力资源投入较少,但对相关人员技术要求较高。

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