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[00302828]金属氧化物半导体场效应晶体管射频开关器件的制备方法

交易价格: 面议

所属行业: 其他电气自动化

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201410283229.0

交易方式: 技术转让 技术转让 技术入股

联系人: 桂林电子科技大学

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所在地:广西壮族自治区桂林市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

本发明公开一种金属氧化物半导体场效应晶体管射频开关器件的制备方法,由GaAs衬底层、AlGaAs缓冲层、InGaAs导电沟道层、InGaP势垒层、GaAs帽层、InGaAs帽层自下而上依次设置形成金属氧化物半导体场效应晶体管。

漏端和源端设置在InGaAs帽层的上方。

位于顶部的GaAs帽层和InGaAs帽层内开设有栅槽,栅端嵌设在该栅槽内;栅介质Al2O3填充在栅槽内,并与InGaP势垒层接触。

上述栅端接入一薄膜电阻后,作为射频开关器件的控制端;源端和漏端中的一个作为射频开关器件的发射端,另一个作为射频开关器件的接收端。

本发明具有隔离度高、功率容量大、插入损耗低和易于实现的特点。

本发明公开一种金属氧化物半导体场效应晶体管射频开关器件的制备方法,由GaAs衬底层、AlGaAs缓冲层、InGaAs导电沟道层、InGaP势垒层、GaAs帽层、InGaAs帽层自下而上依次设置形成金属氧化物半导体场效应晶体管。

漏端和源端设置在InGaAs帽层的上方。

位于顶部的GaAs帽层和InGaAs帽层内开设有栅槽,栅端嵌设在该栅槽内;栅介质Al2O3填充在栅槽内,并与InGaP势垒层接触。

上述栅端接入一薄膜电阻后,作为射频开关器件的控制端;源端和漏端中的一个作为射频开关器件的发射端,另一个作为射频开关器件的接收端。

本发明具有隔离度高、功率容量大、插入损耗低和易于实现的特点。

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