[00301085]半透明介质材料光热特性测量系统与方法
交易价格：
面议
所属行业：
检测仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201510353070.X
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
哈尔滨工业大学
进入空间
所在地：黑龙江哈尔滨市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要：本发明公开了一种半透明介质材料光热特性测量系统与方法，所述测量系统由计算机、二维移动台、支架、小离轴抛物镜、准直镜、光纤、半导体激光器、大离轴抛物镜、电源线、激光器电源、HCT热探测器、BNC数据线、前置放大器、激光器控制线、锁相放大器、锁相放大器控制线、数据采集信号线构成，所述测量方法基于光热辐射测量原理，采用计算机控制函数发生器产生调制信号，信号控制激光器使其光强按调制规律变化，调制变化的激光照射到样件后由于存在光热效应，样件出现温度涨落与红外辐射，光热辐射信号与样件光热特性参数相关，信号被HCT热探测器接收，进而通过数学运算提取样件光热特性参数。本发明可以实现材料完全无损伤、非接触、高效测量。
摘要：本发明公开了一种半透明介质材料光热特性测量系统与方法，所述测量系统由计算机、二维移动台、支架、小离轴抛物镜、准直镜、光纤、半导体激光器、大离轴抛物镜、电源线、激光器电源、HCT热探测器、BNC数据线、前置放大器、激光器控制线、锁相放大器、锁相放大器控制线、数据采集信号线构成，所述测量方法基于光热辐射测量原理，采用计算机控制函数发生器产生调制信号，信号控制激光器使其光强按调制规律变化，调制变化的激光照射到样件后由于存在光热效应，样件出现温度涨落与红外辐射，光热辐射信号与样件光热特性参数相关，信号被HCT热探测器接收，进而通过数学运算提取样件光热特性参数。本发明可以实现材料完全无损伤、非接触、高效测量。
