[00273086]基于频谱的增量式缺陷定位方法
交易价格：
面议
所属行业：
分析仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201610184439.3
交易方式：
技术转让
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技术入股
联系人：
南京邮电大学
进入空间
所在地：江苏南京市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明公开了基于频谱的增量式缺陷定位方法，该方法采用增量式逐步迭代的方法，利用程序信息和测试信息找出程序缺陷语句或者预测缺陷语句可能存在的范围。该方法首先通过运行测试用例，收集测试用例在程序中执行的覆盖信息即频谱信息以及运行结果信息生成覆盖信息表；再对覆盖信息表进行统计分析，计算程序语句可疑度，根据可疑度对程序语句进行排序获得缺陷定位序列；根据定位序列中语句排列逐个进行排错，直到找到引发程序异常的语句。本发明从多角度采取优化策略提高软件缺陷定位的效率，提高了测试用例的覆盖率，很好地减少了收集频谱的开销，提高了可疑度算法的精确性。
本发明公开了基于频谱的增量式缺陷定位方法，该方法采用增量式逐步迭代的方法，利用程序信息和测试信息找出程序缺陷语句或者预测缺陷语句可能存在的范围。该方法首先通过运行测试用例，收集测试用例在程序中执行的覆盖信息即频谱信息以及运行结果信息生成覆盖信息表；再对覆盖信息表进行统计分析，计算程序语句可疑度，根据可疑度对程序语句进行排序获得缺陷定位序列；根据定位序列中语句排列逐个进行排错，直到找到引发程序异常的语句。本发明从多角度采取优化策略提高软件缺陷定位的效率，提高了测试用例的覆盖率，很好地减少了收集频谱的开销，提高了可疑度算法的精确性。
