[00256291]嵌入式存储器的测试结构及方法
交易价格：
面议
所属行业：
其他环保和资源
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN103617810A
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
科小易
进入空间
所在地：福建厦门市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明公开了一种内嵌于SoC芯片中的嵌入式存储器的测试结构，其包括存储器内建自测试模块、系统总线和存储器内建自测试控制器。其中，存储器内建自测试模块集成了各种SRAM的测试算法，作为系统总线的主单元；存储器内建自测试控制器和SoC芯片中的SRAM阵列作为系统总线的从单元；存储器内建自测试控制器包括比较器阵列、与门、结果寄存器、第一多路选择器和第二多路选择器。本发明还提供了一种嵌入式存储器的测试方法，用于本发明的嵌入式存储器的测试结构。本发明实现了基于系统总线对SRAM阵列的并行的内建自测试，由此解决了现有技术中嵌入式存储器测试时间过长的问题，并能够极大地提高集成电路芯片测试效率。
本发明公开了一种内嵌于SoC芯片中的嵌入式存储器的测试结构，其包括存储器内建自测试模块、系统总线和存储器内建自测试控制器。其中，存储器内建自测试模块集成了各种SRAM的测试算法，作为系统总线的主单元；存储器内建自测试控制器和SoC芯片中的SRAM阵列作为系统总线的从单元；存储器内建自测试控制器包括比较器阵列、与门、结果寄存器、第一多路选择器和第二多路选择器。本发明还提供了一种嵌入式存储器的测试方法，用于本发明的嵌入式存储器的测试结构。本发明实现了基于系统总线对SRAM阵列的并行的内建自测试，由此解决了现有技术中嵌入式存储器测试时间过长的问题，并能够极大地提高集成电路芯片测试效率。
