[00254083]一种光子型微波频率测量方法及装置
交易价格：
面议
所属行业：
其他仪器仪表
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201310273466.4
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
科小易
进入空间
所在地：福建厦门市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明公开了一种光子型微波频率测量方法及装置，方法为：在宽频带全频率测量范围进行低分辨率的频率测量，测得反应待测微波信号频段的反馈电压；在反馈电压的作用下，对待测微波信号进行高分辨率的频率测量；装置包括光信号产生器、耦合模块、载波抑制双边带调制模块、载波相移调制模块、第一耦合器、单模光纤、第二耦合器、两光探测器和功率比较及数模转换模块。本发明利用两测得的光载微波功率相除得到功率比较函数（ACF）与待测微波信号的频率fe及光信号相移量φ之间的关系，并通过测量反馈电压改变光信号相移量φ，从而对待测微波频率进行局部频率高分辨率测量，实现了在宽频带全频率范围对待测微波信号进行高分辨率测量的目的。
本发明公开了一种光子型微波频率测量方法及装置，方法为：在宽频带全频率测量范围进行低分辨率的频率测量，测得反应待测微波信号频段的反馈电压；在反馈电压的作用下，对待测微波信号进行高分辨率的频率测量；装置包括光信号产生器、耦合模块、载波抑制双边带调制模块、载波相移调制模块、第一耦合器、单模光纤、第二耦合器、两光探测器和功率比较及数模转换模块。本发明利用两测得的光载微波功率相除得到功率比较函数（ACF）与待测微波信号的频率fe及光信号相移量φ之间的关系，并通过测量反馈电压改变光信号相移量φ，从而对待测微波频率进行局部频率高分辨率测量，实现了在宽频带全频率范围对待测微波信号进行高分辨率测量的目的。
