[00252169]一种基于斜入射超声合成孔径聚焦的厚壁结构缺陷检测方法
交易价格：
面议
所属行业：
机械检测
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201610375312.X
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
科小易
进入空间
所在地：福建厦门市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
一种基于斜入射超声合成孔径聚焦的厚壁结构缺陷检测方法，属于无损检测技术领域。该方法采用一套包括相控阵超声探伤仪、相控阵超声探头和倾斜有机玻璃楔块的超声检测系统，利用相控阵电子扫查功能对厚壁结构试块进行检测，获得各相控阵阵元的A扫信号集合。利用费马定理求解各相控阵阵元与图像重建点在楔块/试块界面处的出射点位置，并对各A扫信号进行时间延迟和幅值叠加处理。对处理后的A扫信号进行希尔伯特变换，利用差值函数获得重建后的超声检测B扫图像。该方法的缺陷检测分辨力高，检测范围大，可提高检测效率，为厚壁结构缺陷的无损检测问题提供有效解决方法。该方法还可嵌入到探伤仪中，实现自动实时成像，具有较高的工程应用价值。
一种基于斜入射超声合成孔径聚焦的厚壁结构缺陷检测方法，属于无损检测技术领域。该方法采用一套包括相控阵超声探伤仪、相控阵超声探头和倾斜有机玻璃楔块的超声检测系统，利用相控阵电子扫查功能对厚壁结构试块进行检测，获得各相控阵阵元的A扫信号集合。利用费马定理求解各相控阵阵元与图像重建点在楔块/试块界面处的出射点位置，并对各A扫信号进行时间延迟和幅值叠加处理。对处理后的A扫信号进行希尔伯特变换，利用差值函数获得重建后的超声检测B扫图像。该方法的缺陷检测分辨力高，检测范围大，可提高检测效率，为厚壁结构缺陷的无损检测问题提供有效解决方法。该方法还可嵌入到探伤仪中，实现自动实时成像，具有较高的工程应用价值。
