[00249266]对称光桥式自稳激光测径系统及其标定方法、测量方法
交易价格:
面议
所属行业:
机械检测
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201710166449.9
交易方式:
技术转让
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技术入股
联系人:
科小易
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所在地:福建厦门市
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对所交付的所有资料进行保密
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技术详细介绍
本发明涉及一种对称光桥式自稳激光测径系统及其标定方法、测量方法,该对称光桥式自稳激光测径系统包括平行激光源、对称角反射镜、两个聚光镜及两个光电探测器,平行激光源产生的平行激光被对称角反射镜分为两部分,分别反射至一个聚光镜,每个光电探测器检测聚光镜所会聚的激光的强度。本发明所述系统及方法,测量精度不受扫描速度影响,因此测量精度更高,而且测径系统的结构也更简单,成本更低。
本发明涉及一种对称光桥式自稳激光测径系统及其标定方法、测量方法,该对称光桥式自稳激光测径系统包括平行激光源、对称角反射镜、两个聚光镜及两个光电探测器,平行激光源产生的平行激光被对称角反射镜分为两部分,分别反射至一个聚光镜,每个光电探测器检测聚光镜所会聚的激光的强度。本发明所述系统及方法,测量精度不受扫描速度影响,因此测量精度更高,而且测径系统的结构也更简单,成本更低。