[00249227]三维激光扫描测头
交易价格：
面议
所属行业：
光学仪器
类型：
发明专利
技术成熟度：
正在研发
专利所属地：中国
专利号：CN201610883422.7
交易方式：
技术转让
技术转让
技术入股
联系人：
科小易
进入空间
所在地：福建厦门市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明涉及一种三维激光扫描测头，包括用于发射第一激光束的第一激光源，用于将第一激光束反射至测球的激光反射平面，并将测球的激光反射平面反射的激光束透射至一第一光电探测器的分光镜，以及根据第一光电探测器所接收到的激光束的位置变化值，得到测杆的位移变化值的处理系统，用于测量测球三维位移变化的测量组件，所述测量组件包括测杆和所述测球。本发明实施例提供的三维激光扫描测头，不仅可以测量支撑座的直接位移变化，还可以测量测杆的变形，因此与传统的三维测头相比，本发明实施例提供的三维激光扫描测头的测量精度更高，且结构简单，易于批量生产，成本低。
本发明涉及一种三维激光扫描测头，包括用于发射第一激光束的第一激光源，用于将第一激光束反射至测球的激光反射平面，并将测球的激光反射平面反射的激光束透射至一第一光电探测器的分光镜，以及根据第一光电探测器所接收到的激光束的位置变化值，得到测杆的位移变化值的处理系统，用于测量测球三维位移变化的测量组件，所述测量组件包括测杆和所述测球。本发明实施例提供的三维激光扫描测头，不仅可以测量支撑座的直接位移变化，还可以测量测杆的变形，因此与传统的三维测头相比，本发明实施例提供的三维激光扫描测头的测量精度更高，且结构简单，易于批量生产，成本低。
