[00244176]基于宽光谱响应CuPc/F4‑TCNQ结构的光电探测器及其制备方法
交易价格:
面议
所属行业:
其他电气自动化
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201610864180.7
交易方式:
技术转让
技术转让
技术入股
联系人:
浙江工业大学
进入空间
所在地:浙江杭州市
- 服务承诺
- 产权明晰
-
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
本发明提供了一种基于宽光谱响应CuPc/F4‑TCNQ结构的光电探测器及其制备方法,所述的光电探测器依次由透光衬底、导电薄膜电极层、CuPc薄膜层、F4‑TCNQ薄膜层、金属薄膜电极层复合组成;本发明方法制得的光电探测器件光谱响应波段范围大,无需制冷、无需加偏压即可响应从紫外波段一直到近红外波段;零偏压下的最大探测率可达1.5×109Jones;并且制作设备简单,操作方便,制作成本低;制得的光电器件具有良好重复性和稳定性。
本发明提供了一种基于宽光谱响应CuPc/F4‑TCNQ结构的光电探测器及其制备方法,所述的光电探测器依次由透光衬底、导电薄膜电极层、CuPc薄膜层、F4‑TCNQ薄膜层、金属薄膜电极层复合组成;本发明方法制得的光电探测器件光谱响应波段范围大,无需制冷、无需加偏压即可响应从紫外波段一直到近红外波段;零偏压下的最大探测率可达1.5×109Jones;并且制作设备简单,操作方便,制作成本低;制得的光电器件具有良好重复性和稳定性。