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[00243673]一类用于双光子光刻的抗蚀剂及其应用

交易价格: 面议

所属行业: 其他仪器仪表

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201710719138.0

交易方式: 技术转让 技术转让 技术入股

联系人: 浙江海洋学院海洋水产研究所

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所在地:浙江舟山市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
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技术详细介绍

摘要:本发明涉及一类用于双光子光刻的抗蚀剂及其应用,属于微纳加工技术领域,所述抗蚀剂包含组分A和组分B;按质量份数计,所述组分A包含笼型倍半硅氧烷化合物100份,双光子光敏剂0.1‑5份,光引发剂0.1‑5份,助剂1‑5份;所述组分B为基于所述组分A总质量的5‑95%的溶剂。该抗蚀剂具有非线性光学效应,优异的介电性及热稳定性,可耐350℃以上高温,可以通过HF溶液进行湿法刻蚀或CHF3、氧气等离子干法刻蚀;500℃以上高温烧结后转化为类二氧化硅结构CxSiOy,该类二氧化硅结构CxSiOy也可以通过HF溶液进行湿法刻蚀或CHF3、氧气等离子干法刻蚀。本发明中的抗蚀剂可很好地用于替代栅加工,满足围栅纳米线器件制备过程中,双光子加工技术和半导体工艺对于替代栅抗蚀剂的物化性能要求。
摘要:本发明涉及一类用于双光子光刻的抗蚀剂及其应用,属于微纳加工技术领域,所述抗蚀剂包含组分A和组分B;按质量份数计,所述组分A包含笼型倍半硅氧烷化合物100份,双光子光敏剂0.1‑5份,光引发剂0.1‑5份,助剂1‑5份;所述组分B为基于所述组分A总质量的5‑95%的溶剂。该抗蚀剂具有非线性光学效应,优异的介电性及热稳定性,可耐350℃以上高温,可以通过HF溶液进行湿法刻蚀或CHF3、氧气等离子干法刻蚀;500℃以上高温烧结后转化为类二氧化硅结构CxSiOy,该类二氧化硅结构CxSiOy也可以通过HF溶液进行湿法刻蚀或CHF3、氧气等离子干法刻蚀。本发明中的抗蚀剂可很好地用于替代栅加工,满足围栅纳米线器件制备过程中,双光子加工技术和半导体工艺对于替代栅抗蚀剂的物化性能要求。

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