X为了获得更好的用户体验,请使用火狐、谷歌、360浏览器极速模式或IE8及以上版本的浏览器
关于我们
欢迎来到科易网(仲恺)技术转移协同创新平台,请 登录 | 注册
尊敬的 , 欢迎光临!  [会员中心]  [退出登录]
成果 专家 院校 需求
当前位置: 首页 >  科技成果  > 详细页

[00229350]一种基于太赫兹光谱技术的皮革种类快速无损检测方法

交易价格: 面议

所属行业: 检测仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:CN201710377432.8

交易方式: 技术转让 技术转让 技术入股

联系人: 中科院重庆绿色智能技术研究院德领科技

进入空间

所在地:重庆重庆市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
|
收藏
|

技术详细介绍

摘要:本发明提供了一种基于太赫兹光谱技术的皮革种类快速无损检测方法,其步骤如下。S1制备适合太赫兹光谱检测皮革样品的检测支架;S2测量待测皮革样品的厚度;S3测量空白样品检测支架,获得参比太赫兹时域光谱信号;测量并获得装有待测样品检测支架的样品太赫兹时域光谱信号;利用公式计算获得样品的太赫兹光谱特征参数,包含吸收系数、折射率;S4多次测量同一样品不同位点,计算特征参数,取平均值减小误差,获得待测样品的太赫兹光谱特征参数的平均值;S5比对构建形成的皮革太赫兹特征光谱数据库确定皮革种类。该方法快速、无标记、无损伤、操作简单、适用范围、可克服检测鉴别者主观影响,能客观反映被检皮革及皮革制品的种类。
摘要:本发明提供了一种基于太赫兹光谱技术的皮革种类快速无损检测方法,其步骤如下。S1制备适合太赫兹光谱检测皮革样品的检测支架;S2测量待测皮革样品的厚度;S3测量空白样品检测支架,获得参比太赫兹时域光谱信号;测量并获得装有待测样品检测支架的样品太赫兹时域光谱信号;利用公式计算获得样品的太赫兹光谱特征参数,包含吸收系数、折射率;S4多次测量同一样品不同位点,计算特征参数,取平均值减小误差,获得待测样品的太赫兹光谱特征参数的平均值;S5比对构建形成的皮革太赫兹特征光谱数据库确定皮革种类。该方法快速、无标记、无损伤、操作简单、适用范围、可克服检测鉴别者主观影响,能客观反映被检皮革及皮革制品的种类。

推荐服务:

Copyright © 2015 科易网 版权所有 闽ICP备07063032号-5