[00229176]基于先验模型的光片显微成像条纹噪声去除方法
交易价格:
面议
所属行业:
分析仪器
类型:
发明专利
技术成熟度:
正在研发
专利所属地:中国
专利号:CN201510220609.4
交易方式:
技术转让
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技术入股
联系人:
中国科学院自动化研究所
进入空间
所在地:北京北京市
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- 产权明晰
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资料保密
对所交付的所有资料进行保密
- 如实描述
技术详细介绍
摘要:本发明提供的基于先验模型的光片显微成像条纹噪声去除方法,包括:对不同位置的图像进行去噪处理;将去噪处理的不同位置的图像平移到同一位置,并进行差值运算得到融合图像。本发明可以有效去除条纹噪声,从而提高光片显微成像系统的质量。
摘要:本发明提供的基于先验模型的光片显微成像条纹噪声去除方法,包括:对不同位置的图像进行去噪处理;将去噪处理的不同位置的图像平移到同一位置,并进行差值运算得到融合图像。本发明可以有效去除条纹噪声,从而提高光片显微成像系统的质量。