技术详细介绍
CdZnTe高能射线探测材料与器件。
内容介绍：
本项目围绕探测器用CdZnTe晶体的制备与开发应用，采用改进的垂直布里奇曼技术，通过合理设计成分以及选择合适的掺杂元素和掺杂量，探索了优化的晶体生长和退火改性工艺，生长出满足探测器要求的高性能CdZnTe晶体。围绕对X射线和γ射线等不同能量射线检测及应用的要求，解决了探测器用CdZnTe晶体的磨抛加工、表面处理以及接触电极的制备难题，建立了探测器用CdZnTe晶片的筛选机制和生产线，制备了对X射线和γ射线响应良好的CdZnTe探测器，实现了CdZnTe晶体和探测器的小批量生产。
该技术获授权发明专利11项，2013年获国家技术发明二等奖。
性能指标：
1.对241Am@59.5KeV的伽马射线能量分辨率<5%；
2.对137Cs@662KeV的伽马射线能量分辨率<3%。
特 点：
1.高能量分辨率；
2.高探测效率；
3.高稳定性；
4.室温使用；
5.无需光电倍增管。
适用范围：
适用于环境监测、核技术、医学诊断、工业无损检测、安全检查、天文观测等。
应用推广情况：
已与多家探测器制作与应用单位达成合作意向，进行了深入的实质性合作，开发出医疗用CdZnTe像素探测器的制备技术并推广应用。
合作方式：
技术开发。