[01569398]基于矢量网络分析架构的射频芯片测试系统关键技术

该项目针对高速发展的射频芯片测试需求，在测量的速度、精度、多参数及一体化等方面，全面提升了射频芯片测试系统的测试能力及性能指标。具体包括：①项目攻克了基于矢量网络分析架构的随机多本振镜像频率抑制及射频芯片特征参数快速提取关键技术，实现了器件性能与信号频谱的同步测量，赋予了测试系统全新的能力——射频芯片全端口激励响应的宽频高速测量。满足射频芯片研发人员全面、快速测量和提取射频芯片性能参数的需求；②测试夹具和探针台对射频芯片测试结果有很大影响。该项目通过系统矢量同步校准技术，消除夹具和探针台的影响，大幅提升了信号频谱绝对功率测量精度；③该项目将复杂调制信号馈入矢量网络分析系统，可实现各类典型通信信号激励下的被测射频芯片激励响应特性分析，对无线通信系统中传输宽带、复杂、高峰均比工作信号的射频芯片测试和评估有着十分重要的意义。 该项目以电子科技大学在电子信息、微波技术、测试仪器等方面多年积累为基础，在自然科学基金、总装备部预先研究计划、科技部重点研发计划、民用航天和探月工程预先研究计划等国家重大重点项目的支持下，突破国外在射频芯片测试系统领域的技术封锁与限制，攻克多项核心技术难题，在射频芯片测量系统关键技术方面取得了突破性进展，达到了国际先进水平。 该项目的相关成果提升了射频芯片测试稳定性和一体化程度，大幅度降低测量成本，提升中国射频芯片测试能力以及国产高端测试仪器和系统的国际竞争力，为中国射频芯片发展提供了重要保障，具有很高的社会与经济效益。 该成果在国产高端测试仪器的高速发展与中国射频芯片产业的巨大测试需求背景下，与中电科第41研究所、中电科仪器仪表公司合作，形成了良好的“产、学、研”联盟，联合推进成果转化与推广。实现了相关产品的全国产化替代，满足相关产业对低成本、高性能测试的市场需求，近3年累计新增产值达3.04亿元。 该项目的相关成果，申请国家发明专利18项，其中授权国家发明专利16项，受理2项。