X为了获得更好的用户体验,请使用火狐、谷歌、360浏览器极速模式或IE8及以上版本的浏览器
关于我们
欢迎来到科易网(仲恺)技术转移协同创新平台,请 登录 | 注册
尊敬的 , 欢迎光临!  [会员中心]  [退出登录]
成果 专家 院校 需求
当前位置: 首页 >  科技成果  > 详细页

[00141392]一种二维外形轮廓自扫描投影测量装置

交易价格: 面议

所属行业: 光学仪器

类型: 发明专利

技术成熟度: 正在研发

专利所属地:中国

专利号:200510019587.1

交易方式: 技术转让

联系人: 华中科技大学

进入空间

所在地:湖北武汉市

服务承诺
产权明晰
资料保密
对所交付的所有资料进行保密
如实描述
|
收藏
|

技术详细介绍

  一种二维外形轮廓自扫描投影测量装置


  本发明公开了一种二维外形轮廓自扫描投影测量装置,它包括依次位于同一光路上的激光器、扩束镜、光缝隙、柱面镜组件、CCD和控制器,光缝隙位于光缝隙直线扫描器上,并由其驱动沿X向运动;光缝隙的长度大于被测的几何形体截面Y向的宽度,其缝宽小于X向的测量分辨率;柱面镜组件由柱面镜、或柱面镜和成像透镜组构成,控制器用于运动控制和测量信号的采集和处理。本发明长方向(X)的最小测量分辨率为20μm、宽方向(Y)的最小测量分辨率为1μm,而且被测对象与测量系统没有相对运动,即没有运动误差。由于运动件的质量很小,其扫描的工作极限频率大于200Hz。本发明具有光路短、简单和光噪声小的特点,且还具有结构简单、制造简便和稳定性好的特点。


  一种二维外形轮廓自扫描投影测量装置


  本发明公开了一种二维外形轮廓自扫描投影测量装置,它包括依次位于同一光路上的激光器、扩束镜、光缝隙、柱面镜组件、CCD和控制器,光缝隙位于光缝隙直线扫描器上,并由其驱动沿X向运动;光缝隙的长度大于被测的几何形体截面Y向的宽度,其缝宽小于X向的测量分辨率;柱面镜组件由柱面镜、或柱面镜和成像透镜组构成,控制器用于运动控制和测量信号的采集和处理。本发明长方向(X)的最小测量分辨率为20μm、宽方向(Y)的最小测量分辨率为1μm,而且被测对象与测量系统没有相对运动,即没有运动误差。由于运动件的质量很小,其扫描的工作极限频率大于200Hz。本发明具有光路短、简单和光噪声小的特点,且还具有结构简单、制造简便和稳定性好的特点。


推荐服务:

Copyright © 2015 科易网 版权所有 闽ICP备07063032号-5