[01051489]光栅微分干涉X射线相衬成像系统

传统的X射线成像系统依据X射线吸收原理进行成像，对于吸收系数相差不大的物体细节很难形成清晰的图像村度。X射线相位衬度成像则利用X射线穿过物体时相速变化产生的相移形成阻像衬度，具有更高的成像灵敏度和细节成像能力。该项目提供的X射线相位衬度成像系统是基于光学TALBOT成像原理的微分干涉成像技术，由线发射体阵列X射线源、相位光栅、具有分析光栅功能的X射线转换屏及制冷CCD相机组成。需要至少两次曝光，依据两步相移法恢复物体的微分相衬图像。成像系统的视场为100mm的圆，能够提供的最大透视电流为4mA，最大电压为100kVp。可以对小物体进行相位成像，获取常规X射线成像技术不能提供的细节信息。随着该技术的发展，有可能应用于医学早期诊断，材料学分析、生物学研究等领域。技术创新：利用自行研制的X射线源、X射线光栅和探测器，组成X射线微分干涉相衬成像系统，通过记录X射线透过物体后的相移，利用相位恢复算法，恢复物体内部结构，提供物体的内部结构信息。与传统的X射线成像技术相比，具有更高的灵敏度和物体细节探测能力。在核心器件和成像方法方面具有自主知识产权。专利情况：美国发明专利，Differential Interference Phase Contrast x_rayImaging System，US8073099。中国发明专利，X射线微分干涉相衬成像系统，ZL200810216469.3。市场前景及应用领域：自1895年伦琴发现X射线以来，X射线成像技术一直是医学诊断、工业无损探伤、安检等领域的重要诊断工具。X射线相衬成像技术是对常规成像技术的突破，可以获取常规技术无法得到的信息，因此，无论在传统X射线成像领域还是新的应用领域，都将产生重大影响，特别是医学早期诊断，新的成像方法更具优势。